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MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S)

MC022系列薄膜测厚仪

MC022系列(CH-1-S)

一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:

   CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数:

1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm

2. 上测头曲率半径:15-50mm

3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N

4. 测量精度:100vm以内<1vm

             100-250vm2vm

             250vm3vm


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